屏蔽材料厚度与屏蔽透射系数的对应关系
由工业探伤防护门所关注的剂量率确定的剂量率的基准控制水平是以微芯片/小时（mSv/h）为单位并以mSv.m2n为单位。6X10，B屏蔽传输系数；R辐射源（目标）到焦点的距离，单位米（m）。
由辐射源（目标）在LM的输出由公式计算。MSV.M2/（mA.H）单元中的泄漏辐射和散射辐射屏蔽是MSV.M2/（mA.min）。工业探伤防护门屏蔽材料厚度X与屏蔽透射系数B的对应关系计算如下：
对于给定的屏蔽材料厚度X，工业探伤防护门相应的辐射屏蔽透射系数B由公式B=10-x/11：XTVL-b屏蔽材料厚度计算，与TVL相同。对于估计的屏蔽透射因子B，所需屏蔽材料厚度X由公式计算：在公式X=-TVL.19B中，当B达到剂量率基准控制水平H时，计算所需屏蔽透射因子。
泄漏辐射屏蔽的估算方法如下：当工业探伤防护门焦点达到剂量率基准控制水平H时，通过公式计算屏蔽透射系数B，然后通过公式计算屏蔽材料厚度X。从H、R到焦点的距离以米（m）为单位，并且剂量率的参考控制水平以微芯片每小时为单位。
13305456411
